Surtronic DUO粗糙度儀泰勒霍普森信息

Surtronic DUO屬于泰勒霍普森Surtronic系列中的入門級便攜設(shè)備，主打“操作簡便、快速測量、高性價比"，適合中小型企業(yè)或?qū)Ρ銛y性要求高的場景（如生產(chǎn)線、車間）。相比型號（如Surtronic S-100/S-116），它在功能上更簡化，但保留了核心的粗糙度測量能力，滿足ISO/ASME等標準的基本需求。




核心參數(shù)與性能

測量原理：

采用觸針式測量技術(shù)（標準觸針半徑通常為5μm），通過觸針在表面輪廓上的位移信號轉(zhuǎn)換為粗糙度參數(shù)，符合國際標準（如ISO 4287、ASME B46.1）。

測量參數(shù)：

可直接顯示關(guān)鍵粗糙度參數(shù)，包括：

Ra（算術(shù)平均粗糙度）：常用的表面粗糙度指標。

Rz（最大高度粗糙度）：輪廓峰谷間的平均高度差。

（部分版本或配置可能支持更多參數(shù)，如Rq、Rt等，但基礎(chǔ)款以Ra/Rz為主）

測量范圍：

Ra：通常為0.05μm~10μm（具體范圍可能因型號或校準略有差異）。

Rz：與Ra對應(yīng)，覆蓋常見工業(yè)表面要求。

分辨率與精度：

分辨率：Ra/Rz可達0.01μm（高精度需求場景）。

重復(fù)性：±5%（典型值，依賴表面條件和操作規(guī)范）。

測量速度：

快速掃描模式（如0.5mm/s或1mm/s），單次測量時間通常＜2秒，適合高效現(xiàn)場檢測。

傳感器與觸針：

標配標準觸針（金剛石材質(zhì)，高耐磨性），可選配不同觸針長度/角度以適應(yīng)特殊表面（如深孔、曲面）。