菲希爾X射線測厚儀XAN215

簡要描述：

菲希爾X射線測厚儀XAN215，先進(jìn)的Si-PIN的基本參數(shù)法，可以在沒有校驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)片校正的情況下分析固、液態(tài)樣品的成分及測量樣品的鍍層厚度。

更新時(shí)間：2024-03-06

訪問量：818

廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商

生產(chǎn)地址：

在線詢價(jià) 聯(lián)系我們

品牌	Helmut Fischer/德國菲希爾	價(jià)格區(qū)間	面議
產(chǎn)地類別	進(jìn)口	應(yīng)用領(lǐng)域	環(huán)保,制藥/生物制藥,綜合

菲希爾X射線測厚儀XAN215

德國FISCHER X-RAY XAN 215入門級X射線熒光材料分析及鍍層測厚儀產(chǎn)品簡介：

FISCHERSCOPE X-RAY XAN 215是一款頗具性價(jià)比的入門級能量色散型X射線熒光材料分析及鍍層測厚儀，通常用于對珠寶、錢幣和貴金屬等進(jìn)行無損分析。

菲希爾X熒光射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XAN215它特別適合分析貴金屬及其合金的成分以及測量鍍層的厚度，從元素氯(17)到鈾(92)，多時(shí)可同時(shí)測定24種元素。

菲希爾X熒光射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XAN215正如所有的FISCHERSCOPE X-RAY 儀器一樣，本款儀器有著初設(shè)的準(zhǔn)確性以及長期的穩(wěn)定性，這樣就顯著減少了校準(zhǔn)儀器所需的時(shí)間和精力。

菲希爾X熒光射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XAN215先進(jìn)的Si-PIN的基本參數(shù)法，可以在沒有校驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)片校正的情況下分析固、液態(tài)樣品的成分及測量樣品的鍍層厚度。

德國FISCHER X-RAY XAN 215入門級X射線熒光材料分析及鍍層測厚儀產(chǎn)品應(yīng)用：

典型的應(yīng)用領(lǐng)域有：

菲希爾X熒光射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XAN215珠寶、貴金屬和牙科用合金分析

菲希爾X熒光射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XAN215黃金制品和K金制品分析

鉑金制品和銀制品分析

銠制品分析

其他合金分析和鍍層厚度測量

多鍍層厚度測量