SURTORNIC S116粗糙度儀泰勒

泰勒霍普森粗糙度儀SURTRONIC S116無錫駿展儀器技術(shù)參數(shù)

泰勒霍普森粗糙度儀SURTRONIC S116無錫駿展儀器數(shù)據(jù)顯示 ：

泰勒霍普森粗糙度儀SURTRONIC S116無錫駿展儀器顯示屏每頁顯示7個(gè)測(cè)試結(jié)果，屏幕上可顯示輪廓圖（剖面圖）

可以打印測(cè)試結(jié)果和圖形

使用Talyprofile軟件可以連接電腦，分析測(cè)試結(jié)果

數(shù)據(jù)存儲(chǔ)

儀器可以存儲(chǔ)100個(gè)測(cè)試數(shù)據(jù)和一個(gè)圖形

儀器支持U盤zui大4G，zui多可存儲(chǔ)39,000個(gè)圖形，每批可存儲(chǔ)10萬個(gè)測(cè)試結(jié)果，共70批數(shù)據(jù)。

使用Talyprofile軟件與電腦連接可以存儲(chǔ)無限數(shù)據(jù)。

電源：

充電器

USB接口5v 1A 110-240VAC 50/60Hz

充電時(shí)間

4小時(shí)

電池壽命

充電一次可以做2000次測(cè)試

待機(jī)時(shí)間

5000小時(shí),由待機(jī)狀態(tài)到開機(jī)測(cè)試狀態(tài)，zui長(zhǎng)時(shí)間不超過1秒I

自動(dòng)關(guān)機(jī)

30秒– 6小時(shí)可以自行設(shè)置

技術(shù)指標(biāo)

測(cè)量范圍

400 um 100 um 10 um

分辨率

50 nm 20 nm 5 nm

底噪(Ra

150 nm 100 nm 50 nm

重復(fù)精度 (Ra)

1%測(cè)試值+底噪

傳感器原

電感

測(cè)量力

50-300mg

測(cè)針針尖半徑

標(biāo)配5 μm (200 μin) 可選2μm(80μin)或10μm(400μin)

測(cè)試方式

滑動(dòng)掃描

自動(dòng)軟件校準(zhǔn)

標(biāo)準(zhǔn)：ISO4287

測(cè)試參數(shù)

三個(gè)取樣長(zhǎng)度

0.25mm、0.8mm、2.5mm

二個(gè)濾波器

2CR、Gaussian

評(píng)定長(zhǎng)度

0.25mm - 12.5mm (0.01 in - 0.49 in)可選

zui大行程

17.5mm

測(cè)試速度

測(cè)試速度

1mm/sec(0.04 in/sec)

回程速度

1.5mm/sec(0.06in/sec)

執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)

ISO 4287,ISO13565-1,ISO13565-2,ASME46.1, JIS0601, N31007

ISO標(biāo)準(zhǔn)可以測(cè)量12個(gè)參數(shù)

Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, Rpc, RSm, Rz1max

ASME標(biāo)準(zhǔn)可以測(cè)量11個(gè)參數(shù)

Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rdq, RSm, Rpm, Rda

ASME標(biāo)準(zhǔn)可以測(cè)量12個(gè)參數(shù)

Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, RSm, RzJIS, Rc, Rku, Rdc

ASME標(biāo)準(zhǔn)可以測(cè)量13個(gè)參數(shù)

R3z (Daimler Benz)

ASME標(biāo)準(zhǔn)可以測(cè)量14個(gè)參數(shù)

um/uin